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分析手法

We provide two-dimensional nanoscale electrical properties measurement and imaging. Advanced electrical characterization technology and research into next generation semiconductor production equipment are our focus.

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  • 导电性原子力显微镜(CAFM)
  • 扫描电子显微镜(SEM-EDS)
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分析案例

Advanced analysis of devices including solar cells, CMOS sensor, logic/power devices and other third generation of semiconductor materials such as GaN & SiC are provided.

  • 太阳能电池(Solar Cells)
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技术研发

Experts with decades of industry experience give the partners professional and Personalized solutions

  • 高感度扫描微波显微镜(SMM)设备的开发
  • 高感度高真空扫描拓展电阻显微镜(SSRM)设备的开发
  • 洛伦兹扫描电子/离子显微镜的开发

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Our purpose is to provide professional and high-quality service. We look forward to serving you.

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