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扫描微波阻抗显微镜(SMM)
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高感度高真空扫描扩展电阻显微镜(SSRM)
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原子力显微镜(AFM)
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导电性原子力显微镜(CAFM)
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扫描电子显微镜(SEM-EDS)
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透射电子显微镜(TEM-EDS)
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聚焦离子束(FIB)
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扫描电容显微镜(SCM)
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逆向工程(Reverse Engineering)
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逆向工程(Reverse Engineering)
【概要】芯片逆向工程(Reverse Engineering),是通过对芯片的物理结构、电气特性、功能逻辑进行拆解与解析,反向推导其设计原理、架构细节、制造工艺乃至固件算法的技术过程。逆向工程是一种基于物理实体的 “反向工程学” 应用,广泛服务于技术研究、安全验证、替代方案开发等场景,又被称为竞品分析。
芯片逆向分析主要分为四个步骤:拆解封装、采集图像、逻辑还原、功能验证。其中,逻辑还原是逆向的核心——识别图像中的元件类型、互连线路,揭示底层结构,梳理信号流向,转化生成易理解的 “逻辑电路”。
随着芯片制程演进、架构复杂度提升,逻辑还原的难度也呈指数级增长,这对获取信号的精度和准确度都有更加严苛的要求。此时,就推荐搭配使用新的测试手段。
针对逆向分析,我司可提供整套定制化的解决方案。